Análise de três diferentes implantes osseointegrados / Scanning electron microscopy of three different osseointegration implants

O objetivo dos autores do presente estudo foi comparar, com o auxílio do microscópio eletrônico de varredura (MEV), as superfícies dos implantes TF, SR-PRESS, e Screw-Vent. Os resultados demonstraram a presença de contaminantes nos implantes TF e SR-PRESS, e diferenças de superfície entre os implantes analisados